ચાઇના નેબ્યુલા લેપટોપ લિથિયમ બેટરી પેક પીસીએમ ટેસ્ટ સિસ્ટમ ઉત્પાદક અને સપ્લાયર |નિહારિકા

નેબ્યુલા લેપટોપ લિથિયમ બેટરી પેક પીસીએમ ટેસ્ટ સિસ્ટમ

આ એક PCM-સંકલિત પરીક્ષણ સિસ્ટમ છે, જે લેપટોપ લિ-આયન બેટરીમાં PCMની મૂળભૂત અને રક્ષણાત્મક લાક્ષણિકતાઓનું મૂલ્યાંકન કરવા માટે યોગ્ય છે.It is primarily used for downloading parameters, calibrating, and testing the protection functions of Texas Instruments' Gas Gauge ICs (BQ20Z45, BQ20Z75, BQ28Z610, BQ3050, BQ3055, BQ3060, BQ40320, BQ40Z55, BQ40Z50, BQ30Z55, BQ34Z100, BQ9000, BQ40Z551, BQ27546 , BQ27742, અને BQ27741).

હમણાં સંપર્ક કરો

વિશેષતા

વિશાળ શ્રેણી અને ઉચ્ચ પરીક્ષણ ચોકસાઈ સાથે ગેસ ગેજ આઈસી સાથે સુસંગત

સરળ જાળવણી અને રિપ્લેસમેન્ટ માટે સ્વતંત્ર, મલ્ટિ-ચેનલ મોડ્યુલર ડિઝાઇન, તેમજ વિવિધ ડેટા રિપોર્ટિંગ કાર્યોની સુવિધા આપે છે.

સ્વતંત્ર ચેનલો એક જ સમયે સમાંતર પરીક્ષણ, ઝડપી અને માનવ સંસાધનોને બચાવે છે

સ્પષ્ટીકરણો

મોડલ	BAT-NEZ-04-V006
પરિમાણ	શ્રેણી	ચોકસાઈ
એનાલોગ બેટરી આઉટપુટ વોલ્ટેજ	100~4800mV	±1mV
એનાલોગ બેટરી આઉટપુટ વર્તમાન	0~500mA	±1mA
સતત વર્તમાન સ્ત્રોતનું આઉટપુટ વોલ્ટેજ	0~4000mV	/
સતત વર્તમાન સ્ત્રોતનું આઉટપુટ કરંટ	20A~30A	±20mA
	3A~20A	±10mA
	20mA~3000mA	±1mA
એનાલોગ બેટરી આઉટપુટ વોલ્ટેજનું માપન	100~4800mV	±1mV
એનાલોગ બેટરી આઉટપુટ વર્તમાનનું માપન	0~500mA	±1mA
સતત વર્તમાન સ્ત્રોત આઉટપુટ વોલ્ટેજનું માપન	0-4000mV	/
સતત વર્તમાન સ્ત્રોત આઉટપુટ વર્તમાનનું માપન	20A~30A	±10mA
	3A~20A	5mA
	20mA~3000mA	±1mA